EXF鍍層測(cè)厚儀的相關(guān)工作原理之近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來調(diào)制丈量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路,引入微機(jī),使丈量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的進(jìn)步(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)目級(jí))。
EXF鍍層測(cè)厚儀的技術(shù)性,鍍層測(cè)厚儀的技術(shù)簡(jiǎn)要介紹了涂鍍層測(cè)厚技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀及時(shí)代特征,重點(diǎn)介紹了目前國內(nèi)外磁性涂鍍層測(cè)厚儀典型產(chǎn)品 的功能特點(diǎn),初步探討了涂鍍層測(cè)厚技術(shù)的未來發(fā)展趨勢(shì)。 磁性涂鍍層測(cè)厚儀 厚度測(cè)量是涂鍍層物性檢測(cè)的重要項(xiàng)目之一,新型工程材料開發(fā),微電子技術(shù)應(yīng)用和標(biāo)準(zhǔn)化事業(yè)進(jìn)展,涂鍍層測(cè)厚技術(shù)近幾年來在國內(nèi)外得到迅速發(fā)展。
與此同時(shí),采取多種原理,應(yīng)用范圍廣泛,有較高科技含量,日趨智能化的各類測(cè)厚儀相繼問世,有力地推動(dòng)了工程物理檢測(cè)的發(fā)展。與*技術(shù)和同類產(chǎn)品相比,面對(duì)入世和經(jīng)貿(mào)一體化的挑戰(zhàn),我們當(dāng)奮起直追,增強(qiáng)參與競(jìng)爭(zhēng)的適應(yīng)力和創(chuàng)新意識(shí),搶抓機(jī)遇,努力實(shí)現(xiàn)測(cè)厚技術(shù)的跨越式發(fā)展。 涂鍍層測(cè)厚技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀 測(cè)量方法原理多樣化 涂鍍層厚度測(cè)量,方法多樣,測(cè)試原理各不相同。在國家標(biāo)準(zhǔn),將涂蓋層厚度測(cè)量方法分為無損法和破壞法兩類。
EXF鍍層測(cè)厚儀的相關(guān)工作原理之磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來丈量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
EXF鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品采用電渦流原理的測(cè)厚儀,原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可丈量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性,通過校準(zhǔn)同樣也可丈量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。
固然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體,但這類任務(wù)仍是采用磁性原理丈量較為合適。
高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間間隔的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。因?yàn)檫@類測(cè)頭丈量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較,主要區(qū)別是測(cè)頭不同,信號(hào)的頻率不同,信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣,渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um,答應(yīng)誤差1%,量程10mm的高水平。
磁感應(yīng)丈量原理采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)由非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。EXF鍍層測(cè)厚儀利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。假如覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí),EXF鍍層測(cè)厚儀自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,丈量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。