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臺式x熒光光譜儀的高壓發(fā)生器輸出功率一般為3kW或4kW，將高壓加至X射線光管后，除小部分用于產(chǎn)生X射線外，大部分轉(zhuǎn)化為熱能，由內(nèi)部水循環(huán)冷卻系統(tǒng)帶走。內(nèi)循環(huán)水用于冷卻陽極靶附近的光管頭部分，因此要求內(nèi)循環(huán)水為電導率很低的去離子水，以防高壓擊穿。內(nèi)循環(huán)水通過儀器內(nèi)部的去離子樹脂柱降低電導率，去離子樹脂柱中的樹脂會年久失效，因此高壓無法啟動時，臺式x熒光光譜儀可檢查一下內(nèi)循環(huán)水的電導率，如果電導率降不下去，考慮更換樹脂。另外，內(nèi)循環(huán)水的水位過低，也會導致高壓開不起來。臺式x熒光...

膜厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。試件的曲率對測量有影響，因此在彎曲的試件表面上...

合金分析儀是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質(zhì)里的特定元素，同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成。每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子(負電微粒)運行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質(zhì)子(正電微粒)數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)我們則可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個原子數(shù)都對應固定的元素名稱，例如鐵，元素名是Fe，原子數(shù)是26。能量色散X螢光與波...

手持式光譜儀雖然本身測量準確度很高，但測定試樣中元素含量時，所得結(jié)果與真實含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素的影響，有的材料本身含量就很低。手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來源有：(1)標樣和試樣中的含量和化學組成不*相同時，可能引起基體線和分析線的強度改變，從而引入誤差。(2)標樣和試樣的物理性能不*相同時，激發(fā)的特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。(3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時，測出的數(shù)據(jù)會有所差別。(4)未知元素譜線的...

ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通?？煞譃閮纱箢?，波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關電子與控制部件，相對簡單。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：nλ=2dsinaθ(n=1,2,...

RoHS是由歐盟立法制定的一項強制性標準，它的全稱是《關于限制在電子電器設備中使用某些有害成分的指令》(RestrictionofHazardousSubstances)。該標準已于2006年7月1日開始正式實施，主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標準，使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護。該標準的目的在于消除電機電子產(chǎn)品中的鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚(注意:PBDE正確的中文名稱是指多溴二苯醚，多溴聯(lián)苯醚是錯誤的說法)共6項物質(zhì)，并重點規(guī)定了鉛的含量不能超過0....

rohs檢測儀的4大基本特點：1.rohs檢測儀采用高壓電源發(fā)生器，大功率300W50KV6mA穩(wěn)定性：波動為0.1。如沒有達到所要的效率及波動偏大，影響到儀器的穩(wěn)定性及精度性。高壓電源設計會延長X光管的壽命。2.rohs檢測儀大功率X光管：使用壽命5.0萬小時，rohs檢測儀器分析儀在吸收先進技術的基礎上，超短光路，增強了X光管的功率，激發(fā)程度高，有利于儀器的精度性；同時延長X光管的使用壽命，簡化了冷卻系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。大幅度降低了維護維修成本；3.rohs檢測儀冷卻系統(tǒng)和電路系...

EXF鍍層測厚儀主要用于金屬材料表面涂鍍層厚度的測量，一般常采用無損檢測方法。但是，由于測量對象、測量方法、測量環(huán)境、儀器設備等因素引進了諸多測量誤差，為確保測量結(jié)果的準確可靠，有必要對其進行不確定度分析。EXF鍍層測厚儀原子的特性由原子序來決定，亦即質(zhì)子的數(shù)目或軌道中電子的數(shù)目，即如圖所示特定的X-射線能量與原子序間的關系。K輻射較L輻射能量高很多，而不同的原子序也會造成不同的能量差。覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射...